Jerome Renard

Radiofrequency and Millimeter Team Manager and Technical Leader at SERMA TECHNOLOGIES
  • Claim this Profile
Contact Information
us****@****om
(386) 825-5501
Location
Bordeaux, Nouvelle-Aquitaine, France, FR
Languages
  • Anglais -
  • Espagnol -
  • Francais -

Topline Score

Topline score feature will be out soon.

Bio

Generated by
Topline AI

You need to have a working account to view this content.
You need to have a working account to view this content.

Experience

    • France
    • Appliances, Electrical, and Electronics Manufacturing
    • 100 - 200 Employee
    • Radiofrequency and Millimeter Team Manager and Technical Leader
      • Sep 2015 - Present

      Creation and development of Radiofrequency and Millimeter Team and Service.Space and Aerospace Products and Applications up to 170 GHzTelecom 5G and 6G Products and ApplicationsDiscret and Integrated Products, System In Package on GaAs SiGe SOI GaNIPD Integrated Passif Device Qualification and Characterizations

    • Senior Failure Analysis Engineer
      • Sep 2015 - Aug 2017

    • France
    • Higher Education
    • 100 - 200 Employee
    • Enseignant externe
      • Sep 2013 - Sep 2015

      Module : Équipements, Développement, Test Hyperfréquences. Module : Équipements, Développement, Test Hyperfréquences.

    • France
    • IT Services and IT Consulting
    • 700 & Above Employee
    • Product Manager
      • Jul 2008 - Sep 2015

      Ingénierie hyperfréquences, électronique, matériaux, mécanique. Secteurs : Aérospatiale, aéronautique, marin, gaz et pétrole CA : 8 MEur/an En charge des produits hyperfréquences, des cartes de commandes analogiques-numériques et des mécaniques associées. Intervention depuis les phases de conception jusqu'à la construction de la phase série interne ou sous-traitée. Mes responsabilités sont : - d'être le référent technique et l'expert des produits de mon portefeuille, - de manager les revues jalons et comités de pilotage : design, test, prototypes, production, affaires, - de définir et réaliser les phases de conception, de développement, de qualification et d’industrialisation, - d'analyser les faits techniques, les défaillances, les causes racines, - de garantir la maturité technique dans un objectif de qualité, coût, planning, - de définir et développer les essais hyperfréquences, analogiques et environnementaux : thermiques, mécaniques, CEM, - de supporter la ligne d’intégration, d'être responsable du périmètre test. - d'accompagner les sous-traitants, - de garantir la fiabilité des procédés et de réaliser les expertises procédés, - de manager la gestion projet dans la ligne de fabrication et d’intégration, - de participer à la construction des réponses aux appels d'offres, Clients : Thales Alenia Space, Thales Systèmes Aéroportés, Astrium, SAFRAN, AIRBUS, Schlumberger, Elettronica-ELT Normes : MIL-XXX, IPCXXYYY, DO 160, DO 254, EN 9001, ESA. Qualité : AMDEC, 8D, 5M, 5 WHY, Pareto, SPC, base et référentiel qualité. Méthodologie : SysEm, Cycle en V, Lean Testing and Engineering, Agile, PLM, ERP, GPAO, GMAO. Show less

    • Aviation and Aerospace Component Manufacturing
    • 700 & Above Employee
    • Ingénieur IVVQ - Systèmes Satellites Télécommunication Spatial
      • Feb 2007 - Jun 2008

      Ingénieur Systèmes Avionique et Charge Utile Satellite - Analyse des spécifications équipements électroniques, hyperfréquences et optiques. - Définition des procédures spécifiques d'intégration et de test. - Réalisation et analyse des phases d'intégration et des essais de maturité des équipements et système. - Vérification des exigences fonctionnelles en conditions opérationnelles. - Contribution à l’identification de faits techniques majeurs, à la prise en compte des évolutions et de la non-régression. Show less

    • Switzerland
    • Semiconductor Manufacturing
    • 700 & Above Employee
    • Ingénieur R&D microéletronique optoélectronique
      • Feb 2006 - Oct 2006

      Développement d’un capteur d’images CMOS. Collaboration avec UNAXIS, LPICM- Polytechnique Palaiseau et le Leti-CEA. Publication Electron Devices Meeting 2006. - Développement d'alliages de silicium amorphe sur silicium pour application de filtrage optique. - Développement d'une structure de détection optique en silicium amorphe dopé sur silicium. - Caractérisations optoélectroniques, électroniques et physiques des matériaux développés. - Analyse de fiabilité et des performances optoélectroniques. Show less

    • Ireland
    • Research Services
    • 200 - 300 Employee
    • Ingénieur R&D Photonique et Nanotechnologies
      • May 2005 - Oct 2005

      Modélisation ab-initio de la propagation des photons dans des cristaux photoniques GaAs. Publication : Applied Physics Letters, 89 104103 (2006). - Caractérisations thermiques et structurales de matériaux à haute permittivité diélectrique pour CMOS. Mise en place d’une étude de fiabilité de nouveaux équipements de dépôt (ALD-MOCVD). Modélisation ab-initio de la propagation des photons dans des cristaux photoniques GaAs. Publication : Applied Physics Letters, 89 104103 (2006). - Caractérisations thermiques et structurales de matériaux à haute permittivité diélectrique pour CMOS. Mise en place d’une étude de fiabilité de nouveaux équipements de dépôt (ALD-MOCVD).

Education

  • INSA Rennes - Institut National des Sciences Appliquées de Rennes
    Ingénieur, Physique et Electronique
    2002 - 2006
  • INSA Rennes - Institut National des Sciences Appliquées de Rennes
    Master's degree Materials and Nanotechnology
    2001 - 2006

Community

You need to have a working account to view this content. Click here to join now